Научная программа конференции предусматривает следующие секции:

• Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений
• Просвечивающая/растровая электронная микроскопия и микроанализ в химии, физике, геологии, материаловедении
• Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ
• Применение электронной микроскопии, конфокальной микроскопии, микроскопии сверхвысокого разрешения и атомно-силовой микроскопии в биологии и медицине
• Сканирующая зондовая микроскопия
• Электронная и ионная литография

Важные даты

• Формирование программы конференции
• Начало работы конференции
• Окончание работы конференции